- 加工定制：否
- 规格：LTE测试白卡（Mini，Micro，Nano）
- 封装材料：PVC
- 应用范围：手机射频测试，耦合测试，模块测试，射频研发测试
- 类型：智能卡
- 读写方法：接触型IC卡
- 应用领域：非金融卡
请店家，确认好需求，以免发错货。
人：郑 生
手 机：
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产品描述
4g-lte手机测试白卡，适用于cmw500综测仪上对lte-fdd/tdd手机的耦合测试。
4g-lte手机测试白卡、fdd/tdd手机测试白卡、gsm/cdma手机测试白卡、wcdma/td-scdma/cdma2000手机测试白卡。
深圳市宝安区是仪电子经营部
郑臣水
18319013553
深圳市宝安区流塘村东区3号602