检测rohs的仪器_天瑞仪器
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
高分辨率sdd探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和x光管：性能稳定可靠，高达50w的功率实现更高的测试效率
仪器介绍
移动样品平台
sdd探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率x光管
计算机及喷墨打印机
检测rohs的仪器_天瑞仪器性能优势
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和x光管：性能稳定可靠，高达50w的功率实现更高的测试效率
技术参数
元素分析范围从硫（s）到铀（u）
分析检出限可达ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220v±5v,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：140±5ev
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45kg
指令介绍
目前对于不同的电子材料，元件，板材等，业界主要还是各家公司自己的具体要求来执行。现在有两种讲法对于无卤素，1.bsen14582测试方法，这种根本测不出（<50ppm）的ci,br；2. ci,br含量各低于900ppm,总含量低于1500ppm。但jpca没有对总含量定义。有些公司定义的测试方法及测试样品的选取都有不同，样品数量太少的话，导致测试结果会有很大偏差。也有分产品中含有的卤素是刻意添加（配方中的成分）及非刻意添加（杂质）？这些具体的要求，目前法规还没有明确定义，都是由各个厂家自己要求确定。
各标准组织的测试方法如下，
bsen14582 分方法a 氧弹燃烧法oxygen bomb combustion + 离子层析法（ion chromatography） 方法b 氧瓶燃烧法oxygen flask combustion + 离子层析法（ion chromatography）
jpca-es-01-2003 方法为氧瓶燃烧法oxygen flask combustion + 离子层析法（ion chromatography）
iec61189-2 方法为氧瓶燃烧法oxygen flask combustion + 离子层析法（ion chromatography）
ipc-tm-650 方法 2.3.41 方法为氧瓶燃烧法oxygen flask combustion + 离子层析法（ion chromatography）
传统只是对卤化物有定义要求，采用铬酸银试纸，氟点测试等方法检测只是对卤化物的离子进行定性的测试方法，如果要定量的话还得用离子层析法（ion chromatography）。
无卤素与无卤化物不是一个概念，卤化物是以游离的卤素离子存在，而卤素则可以共价的方式形成含有卤素的化合物，并且用离子层析法（ion chromatography）是测不到游离的卤素离子存在的。所以，目前的卤素测试方法用氧弹燃烧法oxygen bomb combustion 或氧瓶燃烧法oxygen flask combustion 的方法把待测样品共价存在的卤素破坏原先的结构，使其变为游离的离子形态的卤素，可以被离子层析法（ion chromatography） 检测到。这样不管以何种形式存在的卤素都可以被检测到。
以上为卤素标准推荐采用的测试方法；目前rohs测试主要是参考iec62321文件来进行的，iec62321文件里面列出了rohs里面各种元素的测试方法，及xrf在rohs中的作用，并且注明了xrf测试结果如何判定是否符合标准，目前电子电器行业对于cl，br的测试是参考iec62321文件来进行的，判断其结果是否符合标准也是按照此文件内的30%的偏差来判断的。
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