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探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪) dektak xt
布鲁克 dektak xt 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供无与伦比的重现性，重现性低于5å。台阶仪这项性能的提高达到了过去40年dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。通过整合其行业领先产品，dektak xt实现了最高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代dektak xt台阶仪，能够在微电子，半导体，超高亮度发光二极管（led）、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。
dektak xt 技术参数：
1. 台阶高度重复性5å
2. 单拱（single-arch）设计大大提高了扫描稳定性
3. 前置敏化器件，降低了噪音对测量的干扰
4. 新的硬件配置使数据采集能力提高了40%
5. 64-bit，vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了十倍。
6. 功能卓越，操作简易
7. 直观的vision64用户界面操作流程简便易行
8. 针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事
9. 台阶仪（表面轮廓仪）领域无可撼动的世界领先地位
10. 单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围
铂悦仪器（上海）有限公司 广州办
吴演湘
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