芯片故障分析测试,芯片故障分析公司,上海芯片故障分析,宜特检测
keithley 参数分析仪
操作简易量测快速的 keithley 4200-scs 半导体特性系统提供实验室级的dc组件及导体组件特性量测、电性故障分析量测(efa, electrical failure analysis)、实时曲线绘图(iv-curve) 、高精确性及sub-fa 高分辨率的量测分析。keithley 4200 将大部分的功能都整合在一个系统里，包含了pc，windows nt operation system，hard disk超大的数据储存空间。keithley 4200 的随点即用的windows接口加快及简化了读取资料步骤，所以使用者可以很快分析结果，内建的强大测试工具可以让测试方法标准化以确保相同的测试结果。
应用：
dc组件及导体组件特性量测
电性故障分析量测(efa, electrical failure analysis)
辅助后续电性测试(force v measure i / force i measure v)
机台特性：
简易：随点即用的windows操作环境.操作简单.存盘方便(可直接储存图文件及data数据文件)。
高解析：有特殊的讯号放大器可使smu分辨率达至0.1fa。
快速：使用pc操作系统提供快速的测试设定，强大的数据分析及绘图，打印功能及庞大的硬盘储存空间。
多功能：特殊的浏览式项目导览器将测试依组件分类，并允许多项测试及提供测试流程及循环控制。
扩充性佳：自订测试模块功能可以延伸kite控制其它外部仪器及整合测试项目。
关于宜特：
ist始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。