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probe测试
在显微镜底下，利用探针搭接于ic内部线路，使其可以外接各类设备，以便量测或输入讯号。宜特科技目前拥有的探针与应用相关讯息如下:
探针分为硬针、软针及active probe。硬针之针尖主要规格为1 μm及5 μm；软针之针尖为 < 1 μm，主要应用在高频电路及fib probing pad及active probe(200 mhz)。
当分析样品需使用如emmi / obirch / tlp / esd / curve tracer等仪器却无无适当治具或socket可用时，可由点针方式提供讯号输入输出。
wafer可搭配probe card做各项测试。
实验室另架设有 laser system ,可做laser cut。
关于宜特：
ist始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
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