显微镜分析,导电性原子力显微镜分析,afm分析,宜特检测
导电性原子力显微镜(afm)
原子力显微镜（atomic force microscope, afm），具有原子级解析力，是微观表面结构的重要分析工具。主要原理是藉由针尖与试片间的原子作用力，使悬臂梁产生微细位移，以测得样品表面形貌起伏，可应用于多种材料表面检测。
ist宜特afm分析优势
两岸仅有可分析12吋wafer的afm实验室，保存您完整wafer以便后续进行其他实验。
外加其他功能显微镜，分析应用之范围更扩大。如cafm导电式原子力显微镜（conductive atomic force microscopy, cafm）和scm扫描式电容显微镜（scanning capacitance microscopy，scm)。
afm服务项目：
薄膜粗糙度检测
微观表面结构研究
2d/3d材料表面形貌
奈米级纵深分析
关于宜特：
ist始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
免费咨询电话：8009880501
显微镜分析,导电性原子力显微镜分析,afm分析,宜特检测