宜特检测 EMMI显微镜分析

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微光显微镜(emmi)
对于半导体组件之故障分析而言，微光显微镜(emission microscope, emmi)已被学理证实是一种相当有用且效率极高的诊断工具。该设备具备高灵敏度的ccd，可侦测到组件中电子－电洞对再结合时所发射出来的光子，能侦测到的波长约在 350 nm ~ 1100 nm 左右。目前此设备全方面的应用于侦测各种组件缺点所产生的漏电流，如： gate oxide defects / leakage、latch up、esd failure、junction leakage 等。
侦测的到亮点之情况：
会产生亮点的缺点 - junction leakage; contact spiking; hot electrons; latch-up; gate oxide defects / leakage(f-n current); poly-silicon filaments; substrate damage; mechanical damage及junction avalanche等。
原来就会有的亮点 - saturated/ active bipolar transistors; -saturated mos/dynamic cmos; forward biased diodes/reverse biased diodes(break down) 等。
关于宜特：
ist始创于1994年的台湾，主要以集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，目前全球已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
免费咨询电话：8009880501
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