老化设备_正博电子_廊坊老化设备

加工定制否	品牌thisis品牌
型号thisis型号	用途thisis用途
别名别名1678	输入电压输入电压1757V
外形尺寸外形尺寸6454mm	电解液导电质电解液导电质6568
规格规格2088

电子负载是利用电子元件吸收电能并将其消耗的一种负载。其中的电子元件一般为功率场效应管(power mos)、绝缘栅双极型晶体管(igbt)等功率半导体器件。
由于采用了功率半导体器件替代电阻等作为电能消耗的载体，使得负载的调节和控制易于实现，能达到很高的调节精度和稳定性。同时通过灵活多样的调节和控制方法，不仅可以模拟实际的负载情况，还可以模拟一些非凡的负载波形曲线，测试电源设备的动态和瞬态特性。这是电阻等负载形式所无法实现的。
达到预期故障率的实际老化时间相对更短。过去器件进行首批老化时都要先经过168小时，这是人们期望发现所有早期故障的标准起始时间，而这完全是因为手头没有新器件数据所致。在随后的半年期间，这个时间会不断缩短，直到用实验和误差分析方法得到实际所需的老化时间为止。在老化同时进行测试则可以通过检查老化系统生成的实时记录及时发现产生的故障。尽快掌握老化时间可提高产量，降低器件成本。
将耗时的功能测试移到老化中可以节约昂贵的高速测试仪器的时间。如果老化后只进行参数测试及很少的功能测试，那么用现有设备可测试更多器件，仅此一点即可抵消因采用老化测试方案而发生的费用。
半导体器件损坏的特点
1．半导体器件的检测方法
用万用表r×1k测，各pn结均正常，但上机后不能正常工作，如果用r×10或r×1低量程档测，就会发现其pn结正向阻值比正常值大。测量二、三极管可以用指针万用表在路测量，较准确的方法是：将万用表置r×10或r×1档（一般用r×10档，不明显时再用r×1档）在路测二、三极管的pn结正、反向电阻，如果正向电阻不太大（相对正常值），反向电阻足够大（相对正向值），表明该pn结正常，反之就值得怀疑，需焊下后再测。这是因为一般电路的二、三极管外围电阻大多在几百、几千欧以上，用万用表低阻值档在路测量，可以基本忽略外围电阻对pn结电阻的影响。