晶体管
半导体器件大致分为晶体管和集成电路（ic）两大部分。第二次世界大战后，江苏电子元件回收，由于半导体技术的进步，电子学得到了令人瞩目的发展。
晶体管是美国贝尔实验室的肖克莱，电子元件回收，巴丁，布拉特在1948年发明的。
这种晶体管的结构是使两根金属丝与低掺杂锗半导体表面接触，称为接触型晶体管。
1949年，开发出了结型晶体管，在实用化方面前进了一大步。
1956年开发出了制造p型和n型半导体的扩散法。它是在高温下将杂质原子渗透到半导体表层的一种方法。1960年开发出了外延生长法并制成了外延平面型晶体管。外延生长法是把硅晶体放在氢气和卤化物气体中来制造半导体的一种方法。
有了半导体技术的这些发展，随之就诞生了集成电路。
普通二极管的检测
二极管的极性通常在管壳上注有标记，如无标记，上海电子元件回收，可用万用表电阻档测量其正反向电阻来判断（一般用r×100或×1k档）
※普通发光二极管的检测：（1）利用具有×10kω挡的指针式万用表可以大致判断发光二极管的好坏。正常时，二极管正向电阻阻值为几十至200kω，反向电阻的值为∝。如果正向电阻值为0或为∞，反向电阻值很小或为0，则易损坏。这种检测方法，不能实地看到发光管的发光情况，因为×10kω挡不能向led提供较大正向电流。（2）用3v稳压源或两节串联的干电池及万用表（指针式或数字式皆可）可以较准确测量发光二极管的光、电特性。为此可按图10所示连接电路即可。如果测得vf在1.4～3v之间，且发光亮度正常，库存电子元件回收公司，可以说明发光正常。如果测得vf=0或vf≈3v，且不发光，说明发光管已坏。
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