东京精密accretech表面粗糙度测量仪可测样
东京精密粗糙度仪surfcom nex 030 ／ 040 为了保证向上测量和向下测量
的空间精度所使用的校正单元，在校正测针向上/ 向下时的参
数（ 纵轴感度・圆弧补正・测针先端半径补正） 时使用。
尺寸 150（w）×120（d）×230（h）mm
重量 约3.3kg
东京精密accretech表面粗糙度测量仪 产品详情
东京精密accretech表面粗糙度测量仪可测样
轮廓测量尺寸、形状分析具有超高便利性的通用轮廓测量传感器
轮廓测量通用传感器nex 030e-dt-ch18b同等级高精度的通用传感器搭载了高精度光栅尺的通用型传感器。z轴测量范围60mm，新开发的快速更换测臂机构，使得测臂更换简单方便。可选配上下同时测量轮廓测量高精度传感器 nex 040 e-dt-ch19b实现测力自动调整机构的高精度传感器搭载了新型激光衍射光栅尺的高精度传感器，全范围的测量分辨率为0.02μm。z轴测量范围为60 mm，在快速更换测臂机构上更添加了测力自动调整机构。可选配上下同时测量测量分辨率 0.04 μm（全量程）指示精度±（1.5 + |2h|/100）μm
东京精密accretech表面粗糙度测量仪可测样
轮廓测量高精度传感器 nex 040e-dt-ch19b实现测力自动调整机构的高精度传感器搭载了新型激光衍射光栅尺的高精度传感器，全范围的测量分辨率为0.02μm。z轴测量范围为60 mm，在快速更换测臂机构上更添加了测力自动调整机构。可选配上下同时测量测量分辨率 0.04 μm（全量程）指示精度±（1.5 + |2h|/100）μm测量分辨率 0.02 μm（全量程）指示精度±（0.8 + |2h|/100）μm