近日，美国adi公司公布了一份关于新的ansi/esda/jedec js-002 cdm测试标准的概览。这个新标准的发布是为了更好地评估集成电路（ic）装置对人造传输模式（cdm）静电放电的反应能力。
ansi/esda/jedec js-002 cdm测试标准是一个被广泛使用的测试标准，它被用来测试ic在制造和散热期间的安全性。在使用该测试标准的情况下，测试人员将会通过将静电电荷注入器导向目标芯片来进行测试，从而模拟静电放电所带来的影响。
根据adi公司的概览，这个新标准有以下几个优点：
1.更贴近实际情况：该测试标准使用的是人造传输模式，这更加接近于现实中ic与焊盘之间的相互作用。
2.更简便易行：测试人员可以在短时间内完成对目标芯片的测试，从而可以更快地获得测试结果。
3.更广泛适用：该测试标准适用于各种不同的芯片和应用领域。
此外，该测试标准还包含了一些更新和细化的要求，包括测试时需要使用20 ns的测试脉冲，以及对芯片的测试要求更加严格等。
总的来说，这个新的ansi/esda/jedec js-002 cdm测试标准的发布为ic制造企业提供了更加准确和详细的测试方法，旨在帮助企业更好地保证芯片的安全性并提升产品质量。