talint edu是x射线talbot lau干涉仪的一种巧妙简化形式，包括所有必要的硬件，以正确设置和微调干涉仪，并应用相位步进程序，以获得三种成像模式：吸收、相位对比度和暗场对比度。硬件的设计使得，在按照我们的说明组装（预装）套件后，莫尔条纹将很容易在您的探测器上看到。莫尔条纹图案的进一步微。下文小编将为您详细讲解有关《优势供应microworksx射线干涉仪talint edu》等内容，欢迎您继续阅读，祝您生活愉快，谢谢~ talint edu是x射线talbot lau干涉仪的一种巧妙简化形式，包括所有必要的硬件，以正确设置和微调干涉仪，并应用相位步进程序，以获得三种成像模式：吸收、相位对比度和暗场对比度。
硬件的设计使得，在按照我们的说明组装（预装）套件后，莫尔条纹将很容易在您的探测器上看到。莫尔条纹图案的进一步微调可以通过使用g1和g2支架中的微米螺钉使光栅绕光轴进行角旋转，以直接的方式进行。
性能特点 由基板定义，基板是m6的试验板，间距为25mm光栅是使用x射线liga技术制造的，该技术确保了高精度和高的高宽比（纵横比）通过定位销固定；对称设置两个光栅都可以通过调节测微螺钉绕光轴旋转包含控制器
技术参数 产地：德国
长度：60厘米
宽度：15厘米
高度：20厘米
光栅开放区域
g0：15毫米
g1：70毫米
g2：70毫米
干涉仪的微调：仅调整g1和g2绕光轴的旋转角度
样品放置：简单的旋转台，可在光轴内外摆动样品
相位步进：闭环压电级。30nm分辨率
边缘能见度：通常>15%
g0和g2的占空比：0.55
g0和g2的基板：400µm石墨
g1占空比：0.5
g1基板：200µm硅
详细参数
产品应用
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