供应露点仪(XM-242P SF6精密露点仪)

  • 加工定制：
  • 品牌：西铭
  • 型号：XM-242P
  • 提供加工定制：否
  • 测量范围：露点-80～+20℃
  • 测量对象：SF6定量检测
  • 测量精度：±0.5℃
  • 尺寸：340×300×220（mm）
  • 重量：4.8（kg）
  • 电源：


杭州西铭电子有限公司


中国 浙江 杭州市 莫干山路870号