批发荧光X线分析仪EDX3000B

  • 加工定制:
  • 类型:激光测厚仪
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  • 型号:
  • 测量范围:
  • 提供加工定制:是
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快速:每次測試時間僅需 60 - 200 秒,快速方便; ◆ 無損:檢測前無須對樣品處理; ◆ 準確:檢出限可達 1ppm (百萬分之一); ◆ 直觀:軟體操作介面非常簡單、直觀、易懂。 特性: ◆ 測量 rohs 、電鍍鍍層、全元素分析、一機多用; ◆ 半導體矽片電製冷系統,擯棄液氮製冷; ◆ 特別開發的 rohs 測量軟體,操作介面十分友好; ◆ 可選的准直器系列,分別針對不同大小的樣品;◆ 超大樣品腔,幾乎對樣品尺寸無限制; ◆ 精准的移動平臺,更精確方便地調節樣品位置; ◆ 內置高清晰攝像頭,方便用戶隨時監測樣品; ◆ 獨特的光路增強系統,方便用戶更好地觀察樣品; 檢測分析譜圖式樣: ( 點擊放大查看 ) 綜 合 性 能 指 標 : 一.基本性能 : 1. 元素分析範圍從鉀 (k) 到鈾 (u) ; 2. 元素含量分析範圍為 1 ppm 到 99.99% ; 3. 測量時間:60-200 秒; 4. 元素分析檢出限達 1ppm ; 5. 多次測量重複性可達 0.1 %; 6. 長期工作穩定性為 0.1 %; 7. 能量解析度為 165ev ; 8. 溫度適應範圍為 15℃ 至 26℃ ; 9. 電源:交流 220v±5v ;(建議配置交流淨化穩壓電源。 10. 相互獨立的基體效應校正模型; 11. 多變數非線性回收程式; 12. 任意多個可選擇的分析和識別模型;13. 一次可同時分析 24 個元素。 1. 無損、精確、快速測量各種電鍍層的厚度; 2. 膜厚分析精度 :0.01um-0.05um ; 3. 極小的測定面積 , 可達 0.1mm*0.1mm ; 4. 中間鍍膜及素材的成份對測量值不產生影響; 5. 同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜; 6. 電鍍層可以是鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍錫、鍍鋅等; 7. 可測量二元合金、三元合金等的鍍膜厚及成份; 8.可分析 10 層以上的鍍層; 9. 簡捷、明瞭的測厚分析軟體介面; 10. 可分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。 1. 無損、精確、快速測量各種塑膠、電子元器件、電器、金屬、溶液等物件裏面的有毒有害元素; 2. 對鎘( cd )、鉛( pb )、鉻( cr )、溴( br )、汞( hg )的檢出限達 1ppm ; 3. 簡捷、明瞭、便利的軟體操作介面。 1.無損、精確、快速測量各種樣品中各元素的含量; 2. 一次可同時分析樣品中的 24 個元素; 3. 應用在化學工業、鋼鐵、水泥、陶瓷、電子、環保、食品、造紙、石油、煤炭、有色金屬等領域的研發和品質管理 ( 生產控制 ) ; 4. 樣品的狀態可以是固體、液體、粉體。 ■ 主 要 特 點 ※ 內置高清晰攝象頭 , 方便用戶隨時監測樣品 . ※ 獨特的光路增強系統 , 方便用戶更好地觀察樣品 . ※特別開發的 rohs 測量軟體 , 操作介面十分友好 . ※ 可選的准直器系列 , 分別針對不同大小的樣品 . ※ 超大樣品腔 , 對樣品尺寸無限制 . ※ 精准的移動平臺 , 更精確方便地調節樣品位置 . ※ 半導體矽片電製冷系統 , 擯棄液氮製冷 . ※ 測量 rohs, 電鍍鍍層 , 全元素分析 , 一機多用 . 技術參數 無損樣品 , 前處理簡單 能分析出塑膠中含有的 1ppm 的鎘直觀的軟體操作介面 簡便的儀器操作方式 自動編制附帶合格與否判定結果的分析表 全分析報告結果 rohs 指令檢測主要技術指標 ※. 樣品室尺寸: 1000*1000*300mm ※. 測量時間: 60-300 秒 ※. 工作電源: 220u±5u ※. 高 壓: 15-50kv ※. 管 流: 600μa ※. 計數率: 1300-8000cps ※. rohs 指令有害元素儀檢出限cd/pb/cr/hg/br 為 1ppm ※. 檢測時間為 200 秒 ※. 電致冷矽針半導體探測器 ※. 加強金屬元素感度分析

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