fib点针垫侦错(cad probe pad),fib点针垫侦错,宜特检测
点针垫侦错 (cad probe pad)
fib可在ic上做讯号撷取点。利用fib将要量取之讯号点拉到ic表面，并利用机械式探针(mechanical prober) 撷取ic内部讯号。
利用mechanical prober量测讯号时，将ic放到测试板提供测试所需之电压环境。一般ic内部讯号驱动能力较弱，可能推不动导线加上示波器的负载，造成方波变成三角波、dc准位降低等问题，可利用active probe来改善此现象。
关于宜特：
ist始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。