产品介绍tr518fr是德律科技为满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求，所推出之全系列产品之一。其切换电路板板乃应用先进且高寿命之机械式reed relay，适用类比产品及高压电流之检测，并可整合动态量测。而高密度之设计及最新软体技术，使tr518fr之测点可高达2、、0测试点，其速度亦较传统的ict快80%以上。视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易电脑自动学习并自动产生，开/短路、pin information及ic 保护二极体之测试程式电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向可网路连线，并結合资料库管理及测试站、、程式完整测试统计资料及报表，且自动储存，不因断电而遗失数据系统具自我诊断功能及远端遥控功能board view功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修 高科技半导体cmos switching设计，无寿命限制，待测物安全性最高 操作界面可以压床式、真空式、off-line、in-line等模式 大型主机设计，高密度switchingboard，最高可达3584测试点 可加装调整裝置具动态调整功能多重安全性设计，确实保障操作人员 率先引进testjet technology技术，检测smt元件开路空焊问题，效果最佳应用ic clamping diode技術，可辅助检测 bga 开路空焊问题辅助学习模組可检测ic反向问题 漏电流量测方式可辅助检测电容级性达50-60% 具备1mhz信号源，可精确测量小电容小电感具三点量测模式，可量测电晶体fet、scr等元件，并可对photo-coupler提供四 点量测，确实检测上述元件之反插问题 具pin contact检查功能 。 性能参数测试点数 标准配备:2、、点,可以每片开关板、、点或128点扩充至17、、点 测试步骤 最大步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5sec(typicaldut)元件测试:每一元件约0.8msec至30msec(typical dut)测试范围 电阻:0.1ω至40mω 电晶体: ±5v电容:1.0pf至40mf zener二极体: 标准配备,0.1v至48v电感:1.0uh至60h 二极体:0.1v至9.99v隔离点电路 隔离点自动选择,每测试步骤5点 测试值上下限设定范围 上限:+1%至999% 下限:-1%至-99%可测电路板尺寸标准配备: 420、、(宽)×300、、(深)×100、、(高)选购配备: 500、、(宽)×350、、(深)×130、、(高),更大尺寸基板可依需求订做.主控制电脑 pentium等级以上pc监视器 super vga低辐射crt彩色监视器 记忆设备 3.5 1.44mb,磁碟机一台,40gb以上硬式磁碟机一台 列印机 标准配备:40行双色列印机 *其它选购配备windows95作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文） trace level 图形显示检修软体。 网络连线及远端遥控维修，bar code reader(printer)package,auto test program generator,data transfer generator光电保护及多连板自动盖章功能 实装板程式烧录功能其他说明详情请浏览公司网站交易说明详情请电话联系：133、、835889陈先生
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